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- 單晶與多晶硅整體檢測方案介紹
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- 藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
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解決方案 >> 藍(lán)寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
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晶體表面油污檢測及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測原理決定的。有污染的晶片若被應(yīng)用的外延，就會嚴(yán)重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個專業(yè)的設(shè)備進(jìn)行探測與判斷。
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平整度檢測方案
平整度是晶片很重要的參數(shù)，直接決定了片子合格與否，檢測平整度的方法很多，但目前看來國際還是依托于SEMI標(biāo)準(zhǔn)。參數(shù)的定義，檢測的精度都是需要認(rèn)真考慮的。
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藍(lán)寶石與碳化硅腐蝕方案
腐蝕工藝直接決定了檢測位錯的結(jié)果，關(guān)鍵的一點(diǎn)可能會讓您少走很多的彎路，敬請關(guān)注。
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藍(lán)寶石光學(xué)等級評估
光學(xué)晶體等級一般分六級，如何進(jìn)行評估，怎么評估？這不光需要專業(yè)的檢測設(shè)備，還有就是一線檢測經(jīng)驗(yàn)。
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碳化硅工藝流程及檢測方案
碳化硅工藝流程及檢測方案
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藍(lán)寶石整體檢測方案
工藝流程及涉及的檢測設(shè)備
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